产品测试载板与测试探针基板上的测试探针对应放置，产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽，卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片，该感应片电性连接到测试产品上；产品测试时，部分测试探针直接连接测试产品，部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品，从而对测试产品进行供电，并收集测试产品的信号进行测试；其测试探针在升降气缸的带动下直接与测试产品的感应点接触，免去了操作人员繁琐的接线工作。
老化测试房使用实验室烤箱，lcd老化测试房，可以使用所谓的老化测试来测试电子组件。此测试要求组件在其标准模式下连续工作很长时
由于某些组件对氧化敏感，并且因为它们打算在没有空气的环境中使用，风扇老化测试房，因此只能通过将空气（以及氧气）保持在
老化测试房注意事项：
1、测试参数程序的选择要严格按研发部技术要求进行，不可擅自改动；
2、设备运作过程中若有异常，会产生报警，此时务---先时间检查并处理；
3、老化过程中若产品有异常发生，必须先将异常产品交品管人员进行原因分析，
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