在大批量电子产品的生产中对产品进行老化、测试是许多企业---的---步骤。现有的测试以及老化模式是在恒温老化房中排放测试货架，电路板产品置于货架上，通过操作人员人工接线连接电源进行测试，其有以下弊端：
1、现有老化测试柜的通过货架放置测试产品，肇庆智能老化测试柜，然而，货架因需兼容各种型号产品导致占用空间大，空间利用率不高；
2、由于采用货架方式测试老化，其为开放式空间需对整个房间进行加温，加温效率低下且不，造成耗能浪费
如何防止led产品老化
1，产品的应用中，焊接温度过高，焊接时间过长，智能老化测试柜生产厂家，未做好防静电等，这些问题都是由封装工艺引起的。
2。由led本身的或生产过程引起。
产品测试载板与测试探针基板上的测试探针对应放置，产品测试载板上设置有若干整列排布的用于容纳测试产品的卡槽，卡槽边缘的产品测试载板上还设有感应片，该感应片电性连接到测试产品上；产品测试时，部分测试探针直接连接测试产品，部分测试探针通过连接感应片间接连接测试产品，从而对测试产品进行供电，并收集测试产品的信号进行测试；其测试探针在升降气缸的带动下直接与测试产品的感应点接触，免去了操作人员繁琐的接线工作。
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